STMのオングストロームスケールのプラズモニック接合における近接場SHG実験 (IMAGE)
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図 1 a. SHG過程のエネルギーダイアグラム。物質に周波数ωを持つ強い光を入射すると、その2倍の周波数(2ω)を持つSHG光が発生する。b. STM装置に設置した金探針の先端の拡大写真。先端の曲率半径は約50ナノメートルと非常に鋭くなっている。c. SHG実験の模式図。近赤外光のフェムト秒パルスレーザーをSTMのナノギャップに照射し、その光を近接場として局在・増強させることで、ギャップ中に存在する分子からのSHG光を検出する。本研究では、探針と基板の間に印加する電圧Vの影響を調べた。
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Adapted from Takahashi et al. (2026), Nature Communications
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