Blick in das Rastertunnelmikroskop, dessen Metallspitze sehr nahe an einer zu untersuchenden Oberfläche liegt. (IMAGE)

University of Göttingen

Blick in das Rastertunnelmikroskop, dessen Metallspitze sehr nahe an einer zu untersuchenden Oberfläche liegt.

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Blick in das Rastertunnelmikroskop, dessen Metallspitze sehr nahe an einer zu untersuchenden Oberfläche liegt.

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Georg A. Traeger/Anna Sinterhauf, Universität Göttingen

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